半導體高低溫試驗箱回收【結構設計簡介】

◆本高低溫試驗箱設備為非標準型設備，要求設備能夠滿足從－40℃到150℃的溫度范圍，設備選用材料，使用國內目前的加工設備加工成型，外殼表面進行噴塑處理，美觀，平整。顏色搭配協(xié)調，圓弧型設計，線條流暢自然。內膽設計成在工作時是一個密閉，可安置試樣進行高低溫試驗的空間，能恒定控制試驗溫差±2℃，選用進口鏡面不銹鋼板制作。室內的樣品架及其它附件配件均為鏡面不銹鋼板制作，設計合理，經(jīng)久耐用。設備在符合標準的前提下，各方面性能都穩(wěn)定的基礎上更具備實用性和便于控制。

◆并且，該設備具有容易安裝、操作簡單，基本上*等特點。

◆設備外殼采用A3鋼板數(shù)控機床加工成型，外殼表面進行噴塑處理；

◆內膽為SUS304不銹鋼板；

◆保溫材質:高密度玻璃纖維棉，保溫厚度為100mm，使室內溫度不會傳導到設備外部，確保實驗室內平衡穩(wěn)定的溫度；

◆箱門合理的位置設置一個透明窗口，用以觀測室內試樣的變化。觀察窗采用多層中空鋼化玻璃,內側膠合片式導電膜，具有透明、隔熱、不易產(chǎn)生蒸汽結霜等優(yōu)點；

◆攪拌系統(tǒng)采用長軸風扇電機，耐高低溫之不銹鋼多翼式葉輪,以達強度對流垂直擴散循環(huán)，使實驗室內的溫濕度均勻并保持穩(wěn)定；

◆設備的門與箱體之間采用雙層耐高溫之高張性密封條以確保測試區(qū)的密閉。大門內板材料為不銹鋼制成，并采用無反作用門把手，操作更容易；

半導體高低溫試驗箱回收【參照標準】

半導體高低溫試驗回收本產(chǎn)品滿足GB2423.1－2001試驗A《高溫試驗方法》; GB2423.2－2001試驗B《低溫試驗方法》；以及其它相關標準的要求。嚴格按GB 10592—89《高低溫試驗箱技術條件》進行設計制造，可進行各種高低溫環(huán)境試驗。

半導體高低溫試驗箱回收【型號規(guī)格】

◆型號：　TS-80   

◆工作室尺寸（D×W×H）：（400×500×400 ）㎜

◆外型尺寸（D×W×H）： （1000×980×1600）㎜

半導體高低溫試驗箱回收【主要技術參數(shù)】

◆溫度范圍：   －40℃～150℃

◆溫度均勻度：   ≤±2℃  （空載時）

◆溫度波動度：   ±0.5℃ （空載時）

◆溫度偏差：   ≤±2℃

◆濕度范圍：  30～98%

◆濕度偏差：  +2/-3%RH

◆升溫速率：  3℃/min  （空載時）

◆降溫速率： 50℃ ～ -40℃/60min  （空載時）

◆溫度交變范圍：－40℃～80℃

◆時間設定范圍：   0～9999 小時

◆總功率：5.5kW

◆電源要求：AC380V

半導體高低溫試驗箱回收【控制系統(tǒng)】

◆程序控制器采用7756P彩色液晶觸摸屏，PID微電腦控制SSR輸出；

◆精度：0.1℃（顯示范圍）；

◆解析度：±0.1℃；

◆感溫傳感器：PT100鉑金電阻測溫體；

◆控制方式：熱平衡調溫方式；

◆加熱系統(tǒng)采用遠紅外鎳鉻合金高速加溫電熱絲，高溫*獨立系統(tǒng)，不影響低溫試驗；

◆溫度控制輸出功率均由微電腦演算，以達高精度及高效率之用電效益；

◆溫度控制采用P . I . D＋S.S.R系統(tǒng)同頻道協(xié)調控制；

◆具有自動演算的功能，可將溫度變化條件立即修正，使溫度控制更為精確       穩(wěn)定；     

◆程序循環(huán)次數(shù)為1—50次任意循環(huán)設定，可編輯不同溫度的曲線程  序；

◆資料及試驗條件輸入后，控制器具有熒屏鎖定功能，避免人為觸摸而停機；

◆可配備進口日本大倉溫度記錄儀，實時記載運行溫度數(shù)據(jù)及運行曲線；

◆具有RS-232或RS-485通訊界面，可在電腦上設計程式，監(jiān)視試驗過程并執(zhí)行自動開關機、打印數(shù)據(jù)等功能。

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